Программное обеспечение Desktop EasyEXPERT устанавливается на автономном компьютере и обеспечивает те же возможности, внешний вид интерфейса и рабочие ощущения, что и ПО EasyEXPERT. Программа Desktop EasyEXPERT поддерживает все виды параметрического тестирования устройств и обеспечивает единую измерительную среду для параметрических анализаторов полупроводниковых приборов B1500A, B1505A, 4155B/C и прецизионных параметрических анализаторов полупроводниковых приборов 4156B/C. В он-лайн режиме программа позволяет управлять этими приборами и координировать работу автоматизированных испытательных систем, включающих полуавтоматические установки зондового контроля. В автономном режиме программа может использоваться для разработки новых прикладных тестов и анализа данных. Все это существенно повышает эффективность работы и позволяет использовать параметрические анализаторы по их основному назначению — для проведения измерений.
Основные возможности программного обеспечения Desktop EasyEXPERT
- Поддержка всех видов параметрического тестирования — от базовых измерений вольт-амперных (ВАХ) и вольт-фарадных (ВФХ) характеристик до расширенных измерений импульсных ВАХ и сверхскоростных измерений ВАХ
- Сотни готовых к использованию измерительных библиотек (прикладных тестов)
- Возможность создания личной рабочей области и функция автоматического сохранения данных тестирования позволяет сосредоточиться на анализе параметров устройства, не тратя времени на управление файлами данных
- Отображение/анализ/печать графиков для анализа и документирования данных
- Интерактивный процесс измерения характеристик устройств путем построения кривых с помощью регулятора с функцией автоматического сохранения данных
- Режим характериографа в ПО EasyEXPERT обеспечивает управление параметрами свипирования с помощью вращающегося регулятора, как в обычном характериографе
- Режим осциллографа, позволяющий визуально отслеживать подаваемые на тестируемое устройство ток и напряжение, оптимизировать режимы тестирования и наблюдать переходные процессы в устройстве
- Режим Quick Test для создания тестовых последовательностей без программирования
- Режим классического тестирования ПО EasyEXPERT, обеспечивающий эмуляцию внешнего вида, восприятия и терминологии интерфейса параметрических анализаторов Keysight 4155/4156
- Импорт/экспорт параметров устройств, настроек измерений, избранных настроек, результатов измерений и библиотек приложений
- Управление матричным коммутатором на основе графического интерфейса пользователя
- Функция самопроверки, самокалибровки и диагностики
Готовые к использованию библиотеки приложений
| Прибор | Тип устройства | Прикладные тесты |
|---|---|---|
| Анализатор полупроводниковых приборов B1500A | КМОП транзисторы | ВАХ (Id-Vg, Id-Vd), пороговое напряжение (Vth), напряжение пробоя, емкость, квазистатическая ВФХ и др. |
| Биполярные транзисторы | ВАХ (Ic-Vc), диод, график Гуммеля, напряжение пробоя, коэффициент усиления (hfe), емкость и др. | |
| Дискретные устройства | ВАХ (Id-Vg, Id-Vd, Ic-Vc), диод и др. | |
| Память | Пороговое напряжение (Vth), емкость, ресурсные испытания и др. | |
| Силовые устройства | Импульсная ВАХ (Id-Vg, Id-Vd), напряжение пробоя и др. | |
| Наноустройства | Сопротивление, ВАХ (Id-Vg, Id-Vd, Ic-Vc) и др. | |
| Испытания на надежность | Нестабильность порогового напряжения при отрицательном/положительном смещении (NBTI/PBTI), подкачка зарядов, электромиграция, инжекция горячих носителей, заряд пробоя, времязависимый пробой диэлектрика и др. | |
| Другие | И другие | |
| Анализатор мощных устройств/характериограф B1505A | Мощные полевые МОП-транзисторы (Si, GaN) | ВАХ (Id-Vds, Id-Vgs), зависимость сопротивления Rds от тока стока Id, пороговое напряжение (Vth), емкость (Cgs, Cds, Cgd), коллапса тока, напряжение пробоя, квазистатическая ВФХ и др. |
| Биполярные транзисторы с изолированным затвором | ВАХ (Ic-Vce, Ic-Vge), пороговое напряжение (Vth), емкость (Cge, Cce, Cgc), напряжение пробоя и др. | |
| Транзисторы на основе карбида кремния (SiC) | ВАХ (Id-Vds, Id-Vgs), зависимость сопротивления Rds от тока стока Id, пороговое напряжение (Vth), емкость (Cgs, Cds, Cgd), напряжение пробоя, квазистатическая ВФХ и др. | |
| Мощные биполярные плоскостные транзисторы | ВАХ (Ic-Vce, Ic-Vcbo, Ic-Vceo, Ie-Vbeo), напряжение насыщения Vce и др. | |
| Мощные диоды | ВАХ (If-Vf, Ir-Vr), ВФХ (Cj-Vr) и др. | |
| Конденсаторы | ВФХ, зависимость емкости от времени, емкости от частоты, тока утечки от напряжения, напряжение пробоя, времязависимый пробой диэлектрика и др. | |
| Другие | И другие |
Многие прикладные тесты для анализатора B1500A поддерживаются также и анализаторами 4155/56. Более подробная информация приведена в Справочном руководстве по прикладным библиотекам программного обеспечения EasyEXPERT.
Функциональные возможности ПО EasyEXPERT
| Измерительные возможности | Ступенчатое свипирование, многоканальное свипирование, импульсное свипирование, выборка по времени ВАХ, высокоскоростная выборка по времени ВАХ, ВФХ, зависимость емкости от времени, зависимость емкости от частоты и др. |
| Управление матричным коммутатором | Поддерживаются B2200, B2201 и E5250 (карта E5252) (недоступно для B1505A) |
| Возможности по анализу и отображению данных | Список, график в координатах X-Y (линейная и логарифмическая шкала с маркерами, курсорами и линиями), функция автоматического анализа, пользовательские функции и др. |
| Управление данными | Управление личной рабочей областью, запись/считывание данных измерений и настроек с функцией автоматического сохранения |
- Сотни готовых к использованию измерительных библиотек (прикладных тестов)
- Функция автоматического сохранения данных обеспечивает простоту восстановления результатов измерений и режимов тестирования
- Интерактивное измерение характеристик устройств в реальном времени путем построения кривых с помощью регулятора с функцией автоматического сохранения данных
- Максимально эффективное использование прибора благодаря удобной среде для интерактивного или автономного анализа данных и разработки прикладных тестов
- Поддержка параметрических анализаторов B1500A, B1505A, 4155/56B и 4155/56C
