Программно-аппаратный комплекс для измерений рассеивающих свойств объектов «Сигнатура 2М»

Получить предложение

Сравнить

Категория:
Сведения из Госреестра СИ, Методики поверки/Описания типа и другие полезные материалы

ПРИМЕНЕНИЕ

Комплекс «Сигнатура 2М» предназначен для измерений интегральной и локальной эффективной площади рассеяния объектов и построения двумерных радиолокационных изображений. Комплекс «Сигнатура 2М» применяется при исследованиях рассеивающих характеристик мало- и среднеразмерных объектов, а также масштабных моделей.

КЛЮЧЕВЫЕ ОСОБЕННОСТИ

  • синтез двумерных радиолокационных изображений в произвольном секторе углов (до 360° ) (трёхмерных радиолокационных изображений при использовании ПАК «Сигнатура ЗМ»)
  • нормирование радиолокационных изображений в единицах эффективной площади рассеяния
  • возможность фильтрации отдельных элементов радиолокационного изображения (блестящих точек) для частного анализа
  • возможность использования строго моностатической схемы облучения и приёма полей
  • возможность измерений как в «дальней зоне», так и в промежуточной зоне (при расстояниях свыше D2/(4л), D – размер исследуемого объекта [м], л – длина волны [м])
  • высокоэффективная фильтрация пространственных помех при анализе диаграмм обратного рассеяния
Диапазон частотот 1 до 50 ГГц
Диапазон измерений ЭПРот -40 до 30 дБ/м2
Погрешность измерений элементов поляризационной матрицы рассеянияна согласованных поляризациях 0,5 … 1,0 дБ; на кроссполяризациях 1,5 … 2,5 дБ
Погрешность измерений локальной ЭПР1,0 … 2,0 дБ
Минимальный размер элемента разрешения на радиолокационном изображении5 … 50 мм
Пределы допускаемой погрешности измерений уровней диаграмм обратного рассеяния± (0,05 … О, 1)0 [дБ], где D – измеряемый уровень в [дБ]